《微米级长度的扫描电镜测量方法通则(GB/T 16594-2008)》代替GB/T 16594—1996。本标准与GB/T 16594—1996相比主要变化如下：将“测量方法”改为“测量方法通则”；将“误差分析”改为“不确定度评定”；增加样品变形产生的不确定度评定；改用实验方法获取图像测量的瞄准不确定度量值；增加“被测长度方向的调整”附录。本标准主要起草人：张训彪、卢德生、邓保庆、丁臻敏、刘悦、高文华、徐国照。
- 书 名
- 微米级长度的扫描电镜测量方法通则
- 作 者
- 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
- 出版日期
- 2008年11月1日
- 语 种
- 简体中文
- ISBN
- 155066134895
- 外文名
- General Rules for Measurement of Length In Micron Scale by SEM
- 出版社
- 中国标准出版社
- 页 数
- 14页
- 开 本
- 16
- 品 牌
- 北京劲松建达科技图书有限公司
《微米级长度的扫描电镜测量方法通则(GB/T 16594-2008)》的附录A为规范性附录，附录B～附录D为资料性附录。本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出。本标准由全国微束分析标准化技术委员会归口。本标准主要起草单位：上海元宝能源技术有限公司、上海理工大学、上海市计量测试技术研究院、同济大学、中国船舶重工集团公司第725研究所。
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